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相控阵探头
用于曲面阵列探头的水浸边角楔块
概述用于曲面阵列探头的水浸边角楔块具有一些特定的半径和角度,而且还可以对其半径进行调节,以适用于各种工件的检测。这些楔块的设计目的是用于手动扫查,并与Mini-Wheel(袖珍轮式)编码器组合在一起使用。优势特性 具有一些特定的半径和角度,而且还可以对其半径进行调节,以适用于各种工件的检测 楔块的设计可使用户完成手动扫查 可与Mini-Wheel(袖珍轮)编码器一起使用技术规格工件
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曲面阵列探头
概述曲面阵列探头的外壳由耐腐蚀的不锈钢材料制成,可以保证在水下不超过1米的深度具有防水性能。这些探头的声阻抗与水匹配。这些探头与可调节的水浸楔块相兼容,不仅可以检测复合材料的分层缺陷,还可以检测碳纤维增强聚合物(CFRP)产品的内圆角。优势特性 声阻抗与水匹配。 在环绕半径的圆周上,分辨率较高 耐腐蚀不锈钢外壳 可保证在水下1米深的位置具有防水性能 与可调水浸楔块相兼容 典型应用
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水浸探头
概述水浸探头的设计目的是与水楔配合使用,或者在被检工件部分或全部浸入水中时,在水浸箱中进行检测。这类探头属纵波探头,但经过设置后,使用Rexolite楔块可以进行折射横波检测。优势特性 其声阻抗与水匹配 可装配到水楔上,以更方便地耦合到多种表面,且其水中声程可调(当被检工件不能浸没到水箱中时)。 线性扫查可以覆盖30毫米到90毫米的距离,且检测的准确性非常高。
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深穿透探头
深穿透探头可与多种楔块配合使用,完成各种角度声束检测应用。这些探头专用于完成深穿深穿透探头经过特殊设计,可产生更强的超声波信号。这些探头的晶片高度更宽,提高了穿透力,可对较厚的碳钢以及噪声大、颗粒多的材料进行无损检测。优势特性 超高的晶片高度可产生更大的超声能量 有不同频率可供选择,取决于您对更高清晰度或更深穿透力的需求 可提供更多的晶片数量(A33),以适应TFM、PCI或混合扫
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近壁探头
近壁探头的两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米)。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测(分层、脱粘和多孔性)。优势特性 两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米) 非常适合于复合材料通道检测 可用于复合材料的C扫描检测(分层、脱粘、多孔性) 探头的技术规格和尺寸工件编号订购编号频率(MHz)晶片数量晶片间距(毫米)
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通用探头
概述通用探头采用将薄型探头/楔块组合在一起的设计,便于进入到狭小的区域进行检测。Evident还提供适用于各种角度声束应用的多种楔块供用户选择。这些探头用于手动或自动检测6.35毫米到38毫米厚的焊缝,还可以探测到铸件、锻件、管道、管材、机加工及结构部件中的裂纹和焊接缺陷。优势特性 探头采用将薄型探头/楔块组合在一起的设计,便于进入到狭小的区域进行检测 在声学上适应Rexolite的声波层
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手动接触式探头
概述Evident的A24探头系列用于手动接触式检测,采用符合人体工程学的外壳设计,其薄膜可以更换,提供较大的方形孔径,可用于多种不同的应用。厚度为0.5毫米的薄膜使对耦合情况的核查更加简单,使探头在粗糙的表面上顺滑地移动,还可防止探头受到磨损。探头特性 A24 Atlas系列 使用寿命长:可更换的防磨面延长了探头的使用寿命 用途广泛:纵波0°检测,扫频+30°到 -30°
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小底面探头
概述小底面探头可进入到空间非常狭窄的区域进行检测(A00探头的底面尺寸为8毫米×8毫米)。并为这类应用提供一种设计特殊的小底面楔块。电缆连接器可以从这些探头的侧面或顶部伸出来。优势特性 可进入狭窄的区域(A00探头的底面面积为8毫米 × 8毫米) 电缆连接器可以从探头的侧面或顶部伸出来(进A0) 设计特殊的小底面楔块 10L16-A00用于航空航天领域的划痕检测应用 探头的技术规格和尺寸工件编号
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HTHA探头
提供全聚焦方式(TFM)的OmniScan X4相控阵探伤仪探测和定义更小的高温氢致(HTHA)裂纹
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用于腐蚀检测的双晶阵列探头
我们的脉冲接收(PR)REX1双线阵(DLA)探头支持新型相控阵(PA)检测技术的先进功能,其复杂的布线优化了声束发射能力。
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用于焊缝检测的双晶阵列探头
具有在粒状材料中发送和接收纵波的能力增强了在不锈钢材料(包括奥氏体、耐腐蚀合金,以及异种材料焊缝)中的穿透能力优异的信噪比更高的频率和更小的晶片在进行需要探测非常小的缺陷的应用中具
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被动轴聚焦(PAF)楔块
我们的多功能焊缝检测解决方案采用多种技术,可对外径等于或大于3英寸的板材和管道进行高效检测,对外径等于或大于6英寸的板材和管道进行周向扫查。相控阵、衍射时差以及常规超声等技术可被单独使用,也可以组合在一起使用,以覆盖整个焊缝,并获得很高的检出率
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