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探头和扫查器
探头和扫查器
旋转不锈钢扫查器类探头
Evident工业检测技术公司已完成向Wabtec公司出售业务的交易 。 在此处阅读新闻稿目视检查 视频内窥镜 释放IPLEX One的强大力量 IPLEX™ One 视频内窥镜解决方案 IPLEX One 是第十代 IPLEX 视频内窥镜系统,采用统一的软件驱动平台,助您提升工作效率、
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标准试块
Evident工业检测技术公司已完成向Wabtec公司出售业务的交易 。 在此处阅读新闻稿目视检查 视频内窥镜 释放IPLEX One的强大力量 IPLEX™ One 视频内窥镜解决方案 IPLEX One 是第十代 IPLEX 视频内窥镜系统,采用统一的软件驱动平台,助您提升工作效率、
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近场探头
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特殊水浸式探头Back ButtonSearch IconFilter Icon
特殊水浸式探头是指可进行多种特定应用的各种探头,这些应用如:测量壁厚、检测镀铝层,或多晶片阵列缺陷探测。这些探头包含以下类型:侧视外壳、i-R型和XMS。侧视外壳侧视外壳水浸式探头 适用于测量外壁难以接触的管道的壁厚与带反射镜的标准水浸式探头相比,这种探头外径小,更容易进入到狭小的空间进行检测声束出射点与平直型Microdot连接器成
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柔性相控阵探头Back ButtonSearch IconFilter Icon
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用于角度声束探头的楔块
概述优势特性 可为30°到70°之间的横波或纵波角度声束检测,提供0°、45°、55°和60°的标准钢中折射角度 不锈钢的螺钉插孔可使探头和楔块牢固地接合在一起。 横向电子扫查取代了手动偏斜运动(使用横向楔块)。 可以订购IHC楔块选项,以提高检测的质量。IHC选项包括喷水孔、用于连接Evident扫查器的楔块架上的安装孔,以及可提高防磨效果的硬质合金条。 楔块用于进行手动或自动扫查。
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带有整合型楔块并符合规范的探头
近壁探头的两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米)。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测(分层、脱粘和多孔性)。
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用于曲面阵列探头的水浸边角楔块
概述用于曲面阵列探头的水浸边角楔块具有一些特定的半径和角度,而且还可以对其半径进行调节,以适用于各种工件的检测。这些楔块的设计目的是用于手动扫查,并与Mini-Wheel(袖珍轮式)编码器组合在一起使用。优势特性 具有一些特定的半径和角度,而且还可以对其半径进行调节,以适用于各种工件的检测 楔块的设计可使用户完成手动扫查 可与Mini-Wheel(袖珍轮)编码器一起使用技术规格工件
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曲面阵列探头
概述曲面阵列探头的外壳由耐腐蚀的不锈钢材料制成,可以保证在水下不超过1米的深度具有防水性能。这些探头的声阻抗与水匹配。这些探头与可调节的水浸楔块相兼容,不仅可以检测复合材料的分层缺陷,还可以检测碳纤维增强聚合物(CFRP)产品的内圆角。优势特性 声阻抗与水匹配。 在环绕半径的圆周上,分辨率较高 耐腐蚀不锈钢外壳 可保证在水下1米深的位置具有防水性能 与可调水浸楔块相兼容 典型应用
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水浸探头
概述水浸探头的设计目的是与水楔配合使用,或者在被检工件部分或全部浸入水中时,在水浸箱中进行检测。这类探头属纵波探头,但经过设置后,使用Rexolite楔块可以进行折射横波检测。优势特性 其声阻抗与水匹配 可装配到水楔上,以更方便地耦合到多种表面,且其水中声程可调(当被检工件不能浸没到水箱中时)。 线性扫查可以覆盖30毫米到90毫米的距离,且检测的准确性非常高。
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深穿透探头
深穿透探头可与多种楔块配合使用,完成各种角度声束检测应用。这些探头专用于完成深穿深穿透探头经过特殊设计,可产生更强的超声波信号。这些探头的晶片高度更宽,提高了穿透力,可对较厚的碳钢以及噪声大、颗粒多的材料进行无损检测。优势特性 超高的晶片高度可产生更大的超声能量 有不同频率可供选择,取决于您对更高清晰度或更深穿透力的需求 可提供更多的晶片数量(A33),以适应TFM、PCI或混合扫
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近壁探头
近壁探头的两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米)。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测(分层、脱粘和多孔性)。优势特性 两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米) 非常适合于复合材料通道检测 可用于复合材料的C扫描检测(分层、脱粘、多孔性) 探头的技术规格和尺寸工件编号订购编号频率(MHz)晶片数量晶片间距(毫米)
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